С 2 по 8 октября в г. Сочи пройдет форум «Микроэлектроника 2022» – основная российская коммуникационная площадка по широкому кругу вопросов стратегии научно-технологического развития радиоэлектронной отрасли. От НИЯУ МИФИ в нем участвует большая делегация во главе с ректором университета Владимиром Шевченко.
На форуме прозвучат доклады НИЯУ МИФИ:
- «Понятие и критерии доверенности ЭКБ и РЭА, проблемная ситуация и программа заседания». Докладчик – заместитель директора Центра экстремальной прикладной электроники (ЦЭПЭ) НИЯУ МИФИ Александр Никифоров.
- «Возможности и перспективы отечественного контрактного производства СВЧ ЭКБ и порядок его характеризации». Докладчик – старший научный сотрудник ЦЭПЭ НИЯУ МИФИ Николай Усачев.
- «Изменение климата – трудности и задачи новой реальности». Докладчик – ведущий научный сотрудник ЦЭПЭ НИЯУ МИФИ Анастасия Уланова.
- «Какой могла бы быть программа создания отечественных САПР?» Докладчик – инженер-исследователь ЦЭПЭ НИЯУ МИФИ Максим Горбунов.
- «Реализация гибридного формирования луча для беспроводных сотовых сетей 5G-mimo mmWave с применением двухпозиционного аналогового переключения». Докладчик – руководитель Инжинирингового центра НИЯУ МИФИ Владимир Клоков.
- «Проблемные вопросы проектирования и верификации микросхемы метки радиочастотной идентификации УВЧ-диапазона». Докладчик – инженер-исследователь ЦЭПЭ РАН Денис Сотсков.
- «Прогнозирование помехоустойчивости блоков промышленной аппаратуры по результатам испытаний электронных компонентов на воздействие пачек электрических импульсов». Докладчик – старший научный сотрудник ЦЭПЭ РАН Георгий Чуков.
- «Перспективы использования резистивной памяти в космической аппаратуре». Докладчик – старший научный сотрудник ЦЭПЭ НИЯУ МИФИ Андрей Петров.
- «На распутье: системы на кристалле против 2,5D/3D-корпусирования». Докладчик – инженер-исследователь ЦЭПЭ НИЯУ МИФИ Максим Горбунов.
- «Декапсуляция и идентификация ЭКБ по меткам кристаллов, выявление неоднородных и контрафактных партий». Докладчик – заместитель директора Аттестационно-испытательного центра информационной безопасности и систем защиты информации Леонид Кессаринский.
- «Получение и исследование III-нитридных HEMT-гетероструктур с ультратонким барьером ALN». Докладчик – заместитель директора Центра радиофотоники и СВЧ-технологий НИЯУ МИФИ Александр Гусев.
Специалисты НИЯУ МИФИ также станут модераторами различных заседаний и секций в рамках форума. Проректор НИЯУ МИФИ Николай Каргин выступит в качестве эксперта на обзорном заседании «Потребности и возможности создания новых технологий и доверенных контрактных производств микро- , нано- и СВЧ-электроники».
В форуме также примут участие президент Российской академии наук Геннадий Красников, заместитель министра цифрового развития, связи и массовых коммуникаций России Андрей Заренин и руководитель Федерального агентства по техническому регулированию и стандартизации Антон Шалаев.
