В период с 28.02 по 01.03 представители НОЦ «Стойкость (АО «ЭНПО СПЭЛС» и НИЯУ МИФИ) приняли участие в XVIII ежегодном научно-практическом семинаре «Проблемы создания специализированных радиационно-стойких СБИС на основе гетероструктур» с докладами:
- Уланова А.В. , Смолин А.А., Бобровский Д.В., Некрасов П.В., Бойченко Д.В. «Доминирующие радиационные эффекты в микросхемах с проектными нормами 65 нм и менее».
- Каракозов А.Б., Некрасов П.В., Марфин В.А., Костюченко Д.С., Калашников О.А. Радиационное поведение и методики контроля сложно-функциональных микросхем различных технологий при импульсных ионизирующих воздействиях.
- Можаев Р.К., Черняк М.Е., Уланова А.В., Печёнкин А.А., Никифоров А.Ю. Радиационная стойкость оптоэлектронных приемо-передающих модулей: методики оценки и основные результаты.
Семинар проводится филиалом Федерального государственного унитарного предприятия РФЯЦ-ВНИИЭФ «Научно-исследовательский институт измерительных систем им. Ю.Е. Седакова» на базе оздоровительного центра ОЦ «Сережа». Ежегодно в нем участвуют более 100 человек из числа руководителей и ведущих специалистов предприятий Росатома, Роскосмоса, Российской академии наук, Минобороны, Министерства промышленности и торговли, Министерства образования и науки РФ.
На семинаре проводился анализ современного состояния разработок отечественной специальной электронной компонентной базы различного функционального назначения, обсуждались научно-технические результаты выполненных работ в этой области, были определены дальнейшие направления создания современной электронной компонентной базы.
