Сотрудники НОЦ «Стойкость» (ИЭПЭ НИЯУ МИФИ и АО «ЭНПО СПЭЛС») А.И. Чумаков, А.Б. Боруздина, А.А. Смолин, Ю.М. Московская приняли участие в работе VII Всероссийской научно-технической конференции «Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем». Конференция была посвящена актуальным вопросам автоматизации проектирования МЭС, систем на кристалле, IP-блоков и новой элементной базы микро- и наноэлектроники.
Содержательный и интересный аналитический доклад был сделан д.т.н., проф. А.И. Чумаков, «Текущее состояние и прогноз развития методов оценки и обеспечения радиационной стойкости изделий микроэлектроники».
В ходе работы секции наши сотрудники представили также следующие устные доклады, доступные для скачивания на сайте организаторов конференции http://www.mes-conference.ru/:
- Чумаков А.И. Двухпараметрическая модель для оценки чувствительности СБИС к воздействию тяжелых заряженных частиц
- Смолин А.А.,Чумаков А.И., Согоян А.В, Боруздина А.Б., Печенкин А.А. Механизмы многократных сбоев в микросхемах памяти
- Московская Ю.М., Сорокоумов Г.C., Никифоров А.Ю., Денисов А.Н., Сницар В.Г., Жуков А.А., Бобровский Д.В., Уланова А.В. Рациональный состав типовой оценочной схемы для контроля радиационной стойкости партий пластин базовых матричных кристаллов
- Боруздина А.Б., Яненко А.В., Темирбулатов М.С., Эннс В.И., Печенкин А.А., Уланова А.В., Яшанин И.Б., Чумаков А.И. Особенности экспериментальных методов исследования микросхем памяти с помехоустойчивым кодированием данных
Работа на конференции велась по 11 секциям. Всего на конференции заслушан 160 доклад, среди которых 3 пленарных и 5 аналитических. В рамках конференции МЭС проведен Круглый стол по тематике «Космическая микроэлектроника: состояние, проблемы и перспективы развития».
