11 октября 2016 г. завершился первый этап Всероссийской научно-технической школы «Радиационные эффекты в изделиях электронной компонентной базы (ЭКБ). Методы оценки, прогнозирования и обеспечения радиационной стойкости», «Стойкость ЭКБ - 2016». В общей сложности на первом этапе в работе Школы приняло участие 75 человек.
К чтению лекций привлечены ведущие специалисты РФ в области моделирования, оценки, обеспечения радиационной стойкости ЭКБ, а также планируется участие зарубежных специалистов.
Мероприятия в рамках Школы проводятся с учетом возможностей современных технологий. Отличительной особенностью работы уже 4-й школы, проводимой в НИЯУ МИФИ, является возможность дистанционного участия слушателей, а также большой набор мастер-классов.
