С 19 по 23 сентября 2016 года в Германии в г. Бремен ученые НОЦ «Стойкость» НИЯУ МИФИ (ИЭПЭ НИЯУ МИФИ и АО «ЭНПО СПЭЛС») представили 6 докладов на 25 ежегодной Международной конференции по радиационным эффектам в компонентах и системах – The Conference on RADiation Effects on Components and Systems (RADECS-2016).
RADECS является крупнейшей конференцией в Европе по вопросу контроля и обеспечения радиационной стойкости ЭКБ и РЭА космического применения. В этот раз она собрала более 400 специалистов из 30 стран мира.
Перечень докладов сотрудников НОЦ «Стойкость» НИЯУ МИФИ на конференции RADECS-2016:
- Analog to Digital Converters Single Event Upset Heavy Ion Test Technique
Д.В. Бобровский, А.О. Ахметов, А.А. Демидов, Г.С. Сорокоумов, В.А. Телец - 110 nm Flash Memory SEE Heavy Ion Test
Д.В. Бобровский, А.О. Ахметов, Д.В. Бойченко, А.Г. Петров - OpAmp SET comparative investigation at JINR Russia and UCL Belgium cyclotrons
Л.Н. Кессаринский, А.С. Тарараксин, Д.В. Бойченко, А.В. Яненко - Influence of FRAM operational mode on its SEE susceptibility
А.Б. Боруздина, А.В. Уланова, А.А. Орлов, А.А. Печенкин, А.В. Яненко, А.Ю. Никифоров - Rational Approach for DSP Functional Operability Monitoring within Radiation Tests
О.А. Калашников, В.А. Марфин, П.В. Некрасов, А.Ю. Никифоров - The Enhancement Factor of ELDRS in a Wide Range of Total Doses
В.С. Першенков, Д.В. Савченков, В.А. Телец
