22 сентября в рамках крупнейшей европейской конференции по радиационным эффектам в электронных компонентах и системах RADECS-2016 в г. Бремен (Германия), состоялось награждение авторов лучших работ конференции RADECS-2015.
В число победителей вошли 3 работы ученых НОЦ «Стойкость» НИЯУ МИФИ (ИЭПЭ НИЯУ МИФИ и АО «ЭНПО СПЭЛС»).
Лучший постерный доклад: «Semi-Empirical Method for Estimation of Single-Event Upset Cross-Section for SRAM DICE Cells» М.С. Горбунов, А.А. Боруздина, П.С. Долотов.
Лучший доклад молодого специалиста: «Modeling charge buildup in deposited oxides under x-ray and gamma irradiation» А.А. Смолин, А.В. Согоян, А.В. Уланова, А.А. Демидов.
Лучший прикладной доклад: «SEL Sensitivity Differences in ICs with Same Crystals Marking» А.А. Печенкин, П.В. Некрасов, А.Б. Боруздина, Д.Е. Протасов.
Поздравляем наших коллег!
